Bir hacimsel numunenin birden fazla derinliğinden görüntü verilerinin eşzamanlı yakalanmasına olanak vermek için bir yeni usul açıklanmıştır. Usul, numunede edinim derinliği anında değiştirilirken, bir 2D veya 3D görüntünün kesintisiz edinilmesine olanak sağlar. Bu usul, otomatik odaklama için de kullanılabilir. Ek olarak, numuneden görüntü verilerinin yakalanması için bu usul, Şekil 2'de betimlendiği gibi bir eğik konfigürasyon kullanıldığında, özellikle numunelerin 2D veya 3D görüntülenmesiyle ilgili belirtilen amaç için hız ve ışık duyarlılığı açısından optimal etkinlik sağlar. Usul, özellikle bir dikgen XY koordinat sisteminde piksellerin bir 2D dizisini içeren bir görüntüleme sensörü ile kullanılabilir; burada elektronik devreler için boşluklar mevcuttur. Başka görüntüleme sensörü de kullanılabilir. Ayrıca usulü otomatik olarak yürüten bir görüntüleme cihazı sunulmuştur.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.