Sistem Patent
İncelemeli Patent

Yeni Nesil Nükleik Asitler İle Tek Nokta Mutasyon Tayinine Yönelik Empedimetrik Bir Yöntem

Buluş Özeti

Bu buluş, fermuar (zip) nükleik asitler (ZNA) olarak adlandırılan yeni nesil nükleik asitler kullanılarak nanomalzeme modifiye tekli ve çoklu ölçüm sistemlerine dayalı kullan-at biyosensörler vasıtasıyla tek nokta mutasyonunun tayinine yönelik empedimetrik bir yöntem ile ilgilidir. Buluş konusu yöntem, hedef nükleik asit dizisi ve onun eşleniği olan Zip Nükleik Asit (ZNA) probu arasında gerçekleştirilen nükleik asit hibridizasyonunun empedimetrik tayinini içermektedir.

IPC Sınıfları
C12Q 1/68
Taraflar
Buluş Sahibi
Ece Ekşin K. Arzum Erdem Gürsan
Hak Sahibi
K. Arzum Erdem Gürsan
Vekil
Zeliha Özsoy (3 Tek Patent Marka Danışmanlık A.Ş.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.