Bu buluş, farklı ölçülerdeki biyellerin (A) hassas yüzey ölçümü ve kontrolünü, gövdenin (2) rotasyonel hareketi sonucunda oluşan farklı eksenler (X) boyunca ileri geri hareket ederek biyelin (A) yatay eksende tercih edilen bir mesafede konumlandırılması ile sağlayan bir ölçüm aparatı (1) ile ilgilidir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.