444 22 41
Sistem PatentSistem Patent
Menü
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Bir Numunenin Çoklu Derinliklerinde Görüntü Verisinin Eşzamanlı Yakalanması İçin Yöntem Ve Cihaz.

Buluş Özeti

Bir volümetrik numunenin çoklu derinliklerinden görüntü verisinin eşzamanlı yakalanmasına izin veren bir yeni yöntem açıklanır. Yöntem numunede edinim derinlikleri iş esnasında değiştirilirken, bir 2D veya 3D görüntünün eksiz edinilmesine izin verir. Bu yöntem aynı zamanda, otomatik odaklama için kullanılabilir. İlave olarak, numuneden görüntü verisini yakalamanın bu yöntemi huz ve ışık duyarlılığı bakımından, özellikle Şekil 2'de betimlenen gibi bir yana yatırılmış konfigürasyon kullanıldığı zaman, numunelerin 2D veya 3D görüntülenmesinin burada sözü edilen amacına izin verir. Yöntem özellikle, elektronik devre için aralıkların mevcut olduğu, bir ortogonal XY koordinat sisteminde piksellerin bir 2D dizinini içeren bir görüntüleme sensörü ile kullanılabilir. Aynı zamanda, başka görüntüleme sensörü kullanılabilir. İlave olarak, yöntemi otomatik olarak gerçekleştiren bir görüntüleme cihazı sunulur.

IPC Sınıfları
G02B 21/00G02B 21/36G02B 21/22
Taraflar
Buluş Sahibi
Bas Hulsken High Tech Campus 5 5656 Ae Eindhoven Hollanda
Hak Sahibi
Konınklıjke Phılıps N.V. High Tech Campus 5 5656 Ae Eindhoven Hollanda
Vekil
Tuğba Gündemir (Ankara Patent Bürosu Ltd. Şti.) Bestekar Sok. No:10/12 Kavaklıdere- Çankayaankara

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.