Bir volümetrik numunenin çoklu derinliklerinden görüntü verisinin eşzamanlı yakalanmasına izin veren bir yeni yöntem açıklanır. Yöntem numunede edinim derinlikleri iş esnasında değiştirilirken, bir 2D veya 3D görüntünün eksiz edinilmesine izin verir. Bu yöntem aynı zamanda, otomatik odaklama için kullanılabilir. İlave olarak, numuneden görüntü verisini yakalamanın bu yöntemi huz ve ışık duyarlılığı bakımından, özellikle Şekil 2'de betimlenen gibi bir yana yatırılmış konfigürasyon kullanıldığı zaman, numunelerin 2D veya 3D görüntülenmesinin burada sözü edilen amacına izin verir. Yöntem özellikle, elektronik devre için aralıkların mevcut olduğu, bir ortogonal XY koordinat sisteminde piksellerin bir 2D dizinini içeren bir görüntüleme sensörü ile kullanılabilir. Aynı zamanda, başka görüntüleme sensörü kullanılabilir. İlave olarak, yöntemi otomatik olarak gerçekleştiren bir görüntüleme cihazı sunulur.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.