Bir araç veya obje içinde materyallerin incelenmesine yönelik yöntemler, sistemler ve cihazlar açıklanır. Bir yönde müon tomografili saptamaya yönelik bir sistem, her biri, müon saptama sensörlerinin bir birinci dizisini ve bir ikinci dizisini içeren sırasıyla bir birinci ve ikinci yuva yapısı, ki bu birinci yuva yapısı, bir hedef objeyi barındıracak bir bir saptama bölgesi oluşturmak üzere sabit bir yükseklikte ikincinin karşısına konumlandırılır, buradaki müon saptama sensörleri, birinci dizi içinden saptama bölgesine geçen ve saptama bölgesinden gelerek ikinci dizi içinden geçen müonların konumlarını ve yönlerini ölçer; birinci yuva yapısını sabit bir yükseklikte konumlandırmak için destek yapıları; ve müon saptama sensörlerinden veriler almak ve müonların hedef obje materyalleri içinde yayılma davranışlarını analiz ederek saptama bölgesi içindeki yayılım merkezlerinin tomografik bir profilini veya uzamsal dağılımını elde etme amaçlı bir işleme ünitesi içerir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.