Ölçüm Sistemi Ve Bir Açının Ölçülmesine Yönelik Yöntem.

Buluş, bir objenin bir birinci yüzey alanı boyunca bir birinci düzlemi ve bir ikinci yüzey alanı boyunca bir ikinci düzlemi arasındaki bir açının ölçülmesin yönelik bir ölçüm sistemi ile ilgilidir, birinci yüzey alanında birden çok ölçüm noktasının bir ölçüm koordinat sisteminde koordinatların ölçülmesine yönelik bir sensör düzenlemesi, birinci düzlem ve ikinci düzlem arasındaki bir kesişimden bir birinci uzaklıkta bir birinci ölçüm noktası ve kesişimden bir ikinci uzaklıkta bir ikinci ölçüm noktası içeren birden çok ölçüm noktası içermektedir, ikinci uzaklık, birinci uzaklıktan farklılık göstermektedir. Ölçüm sistemi ayrıca, yer çekimi kuvvetinin yönüne zıt yönde ölçüm koordinat sisteminin bir eğiminin ölçülmesine yönelik bir eğim ölçer içermektedir. Ölçüm sistemi ayrıca, birden çok ölçüm noktasının ölçülen koordinatlarına, ölçülen eğime ve ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin zıt yönü arasındaki açıya dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasında açının belirlenmesine yönelik bir işlem cihazı içermektedir.