444 22 41
Sistem PatentSistem Patent
Menü
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Ayrımsal Ölçmeler Üzerine Temellendirilmiş Olarak Bir Otomatik Odaklama Görüntüleme Sistemi İçeren Tarayıcı Mikroskop Sistemi.

Buluş Özeti

Mevcut buluş dijital patolojinin alanı ve özellikle, tam slayt tarayıcılar ile ilgilidir. Bir eğilmiş otomatik odaklama görüntü sensörü slaytın bir eğik kesitini görüntüler. Eğilmiş sensör tarafından alınmış bulunan çoklu ardışık birbiri üzerine binen görüntüyü odaklamak için, görüntüler karşılaştırılırlar. Doku katmanının eksenel konumu bu ayrımsal ölçmeden sonuçlanan polar hata sinyalinden belirlenebilir.

IPC Sınıfları
G02B 21/24
Taraflar
Buluş Sahibi
Bas Hulsken Phılıps Ip&S - Nl High Tech Campus 44 Nl-5656 Ae Eindhoven Hollanda
Hak Sahibi
Konınklıjke Phılıps N.V. High Tech Campus 5 5656 Ae Eindhoven Hollanda
Vekil
Tuğba Gündemir (Ankara Patent Bürosu Ltd. Şti.) Bestekar Sok. No:10/12 Kavaklıdere- Çankaya/Ankara

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.