444 22 41
Sistem PatentSistem Patent
Menü
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Optik Analiz Sistemi Ve Yöntemi.

Buluş Özeti

İçinde bir numunenin bir ışık kaynağı kullanılarak analiz edildiği bir optik analiz sistemi ve yöntemi sağlanır. Bir optik sensör sinyali bir birinci sinyal işlemden geçirme devresi kullanılarak işlemden geçirilir ve ışık kaynağına uygulanmış bir sürüş sinyalinin temsili olan bir elektrik sinyali bir ikinci sinyal işlemden geçirme devresi kullanılarak işlemden geçirilir. Sensör sinyali bir referans olarak işlemden geçirilmiş elektrik sinyali kullanılarak sinyal-gürültü oranını geliştirmek üzere ilave olarak işlemden geçirilir.

IPC Sınıfları
A61B 5/026A61B 5/024A61B 5/1455A61B 5/00
Taraflar
Buluş Sahibi
Koen Geenen High Tech Campus 5 5656 Ae Eindhoven Hollanda Alphonsus Tarcısıus Jozef Marıa Schıpper High Tech Campus 5 5656 Ae Eindhoven Hollanda
Hak Sahibi
Konınklıjke Phılıps N.V. High Tech Campus 5 5656 Ae Eindhoven Hollanda
Vekil
Tuğba Gündemir (Ankara Patent Bürosu Anonim Şirketi) Kavaklıdere Mah. Bestekar Cad. No:10/1 Kavaklıdere- Çankaya/Ankara

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.