İçinde bir numunenin bir ışık kaynağı kullanılarak analiz edildiği bir optik analiz sistemi ve yöntemi sağlanır. Bir optik sensör sinyali bir birinci sinyal işlemden geçirme devresi kullanılarak işlemden geçirilir ve ışık kaynağına uygulanmış bir sürüş sinyalinin temsili olan bir elektrik sinyali bir ikinci sinyal işlemden geçirme devresi kullanılarak işlemden geçirilir. Sensör sinyali bir referans olarak işlemden geçirilmiş elektrik sinyali kullanılarak sinyal-gürültü oranını geliştirmek üzere ilave olarak işlemden geçirilir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.