Buluş parametrelerin ölçülmesi veya demir veya çelik eriyikten numune alımı ayrıca demir veya çelik eriyikte bulunan cüruftan numune alımı için daldırma ve yan çevre yüzeyi bulunan, daldırmasına bir daldırma ve yan çevre yüzeyi bulunan ölçüm kafası yerleştirilmiş olan taşıyıcı borulu düzenekle ilgilidir; burada ölçüm kafasının daldırmasında düzeneğin içinde bulunan numune bölmesi için en az bir sensör veya giriş deliği yerleştirilmekte ve bir giriş kanalı üzerinden taşıyıcı borunun içine yerleştirilen ön bölmeye geçen taşıyıcı borunun yan çevre yüzeyine veya ölçüm kafasına bir giriş deliği yerleştirilmekte ve ön bölmenin daldırmaya dönük tarafında düzeneğin içine yerleştirilen cüruf numune bölmesine geçtiği ön bölmede ölçüm kafasının daldırmasına dönük ucunda bir giriş deliği bulunmaktadır.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
