Bu buluş piksellerin bir 2D sıralanışını içeren bir sensör içeren bir dijital tarayıcı ile bir numuneyi mikroskopik olarak görüntülemek için bir yöntem ve bu yöntemi gerçekleştiren bir dijital tarama mikroskobu ile ilgilidir. Özellikle, bir XY koordinat sisteminde piksellerin bir 2D sıralanışını içeren bir sensör içeren bir tarayıcı ile bir numuneyi mikroskopik olarak görüntülemek için bir yöntem sağlanır, eksen Y tarama yönüne önemli derecede dik olur ve burada, tarayıcı sensörün numunenin bir eğik kesitini görüntüleyebildiği şekilde düzenlenir ve burada, yöntem aşağıdaki adımları içerir: *piksellerin 2D sıralanışının bir birinci alt-sıralanışının aktif hale getirilmesi, birinci alt-sıralanış bir birinci X koordinatında (X1) esas olarak Y ekseni boyunca uzanır, *piksellerin birinci alt-sıralanışı aracılığıyla numunenin bir birinci alanının görüntülenmesi aracılığıyla bir birinci görüntünün yaratılması. Buluşların hususları uyarınca, görüntüleme ve otomatik odaklama amaçları için, bu yöntemi gerçekleştiren bir tarayıcı ve aynı 2D sıralanış sensörünün kullanımı teklif edilir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
