Bir yazılım kontrollü bilgisayar cihazı ve/veya adanmış bir donanım tarafından uygulanan bir yöntem, bir metalürjik kazan (1) içerisine örneğin eritilmiş metal veya yarı iletken malzeme gibi elektriksel olarak iletken bir hedef malzemenin (M) sondalanması için tasarlanmaktadır. Yöntemde, elektriksel olarak iletken hedef malzeme (M) ve sensör (4) arasında bir nispi yer değiştirme sırasında, hedef malzeme (M) içerisine girilen bir sensörden (4) bir ölçüm sinyali elde edilmektedir, ölçüm sinyali sensörün (4) yakınında elektriksel iletkenliğin göstergesi olmaktadır. Ölçüm sinyali, sensör (4) içerisinde en az bir bobin (82; 92) çalıştırılarak oluşturulan, sensörün (4) etrafındaki elektromanyetik alandaki anlık değişiklikleri göstermek için üretilmektedir. Bir ölçüm sinyaline dayalı olarak, bir sinyali profile bağlı devinimin bir işlevi olarak elektriksel iletkenliğin göstergesi olarak üretilmektedir. Yöntem herhangi bir seviyedeki detayda kazan (1) içerisindeki hedef malzemenin (M) içsel dağılımının bir sondalamasını sağlamaktadır. Sinyal profili mesela kükürtlü külçe bileşimi, erime derecesi, karıştırma derecesi ile farklılık gösteren bölgeler/katmanlar (S, M1, M2) hakkında bilgi sağlamak için analiz edilebilmektedir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
