Buluş, özellikle bir kimya tesisine veya bir uçağın içine düzenlenmiş en az iki yedekli sensörün izlenmesi için öngörülen bir yöntem ile ilgilidir, bir birinci sensörün bir birinci sensör sinyalinin sağlanmasını, burada birinci sensör sinyali en az bir ölçüm değerini kapsar, bir diğer sensörün en az bir diğer sensör sinyalinin sağlanmasını, burada diğer sensör sinyali en az bir diğer ölçüm değerini kapsar, birinci sensör sinyalinden bir birinci analiz sinyalinin oluşturulmasını, diğer sensör sinyalinden en az bir diğer analiz sinyalinin oluşturulmasını, bir zaman ufku üzerinden en azından birinci analiz sinyaline ve diğer analiz sinyaline bağlı olarak birinci sensör sinyali ile diğer sensör sinyali arasında en az bir bağıntının tayin edilmesini, bağıntının en az bir izin verilen aralık ile karşılaştırılmasını ve karşılaştırma sonucuna bağlı olarak, iki yedekli sensörden en az bir sensörün hatalı olup olmadığının tayin edilmesini kapsar.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
