Bir yüksek gerilim cihazındaki (100, 101, 102, 103, 200) bir yalıtımın (2, 3, 32) yaşlanma süreçlerini izlemek için bir yöntem gösterilmektedir. Bu yöntem, yalıtım (2, 3, 32) içinde üretilen bir ışık sinyalinin bir birinci fiberoptik sensörle (20, 21) ölçülmesini ve yalıtıma (2, 3, 32) ait bir mekanik büyüklüğün bir ikinci fiberoptik sensörle (30, 31) ölçülmesini, ayrıca yalıtımın bir yaşlanma durumunun değerlendirilmesini içerir. Ayrıca, bir saydam veya yarı-saydam yalıtım (2, 3, 32) ve iki fiberoptik sensör (20, 21, 30, 31) içeren bir yüksek gerilim cihazı (100, 101, 102, 103, 200) gösterilmektedir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
