Sistem Patent
Patent Başvurusu

Makine Öğrenimi Kullanılarak Flüorışıma Mikroskopi Resimlerinde Otomatikleştirilmiş Miyelin Algılamasına Yönelik Yöntem Ve Sistem

Buluş Özeti

Mevcut buluş, etiketleme, sayma ve miktar ölçme yükünü düşürmek amacıyla görüntü analizi tabanlı bir yöntem ve otomatik miyelin algılamaya yönelik bir sistemdir. TR 2019 19929 A2

IPC Sınıfları
G06N 20/00
Taraflar
Başvuran
İstanbul Medipol Üniversitesi Cibali Mh. Atatürk Bulvarı 27 Fatih İstanbul Türkiye İstanbul Teknik Üniversitesi İstanbul Teknik Üniversitesi Rektörlüğü Binası, İtü Ayazağa Kampüsü, 34469, Maslak Sarıyer İstanbul Türkiye Yıldız Teknik Üniversitesi Davutpaşa Kampüsü Davutpaşa Mahallesi Davutpaşa Caddesi 34220 Esenler İstanbul Türkiye
Buluş Sahibi
Abdulkerim Çapar Behçet Uğur Töreyin Bilal Ersen Kerman Sibel Çimen Yetiş Dursun Ali Ekinci Umut Engin Ayten
Vekil
Senem Kayahan (Yalçıner Patent Ve Dan. Ltd. Şti.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.