Mevcut buluşun düzenlemeleri, bir metal hedefin mikro yapısını izlemeye yönelik aşağıdakileri içeren bir sistem sağlar: bir manyetik alanın çıkarılmasına yönelik birçok elektromanyetik sensör (420, 430, 440, 450, 551, 552, 553, 554), burada elektromanyetik sensörlerin her biri tarafından verilen bir uyarım sinyal çıkışı, çok frekanslı bir dalga formudur, ortaya çıkan manyetik alanın tespit edilmesi ve buna yanıt olarak bir algılama sinyali çıkarılması; ve birçok elektromanyetik sensörün (420, 430, 440, 450, 551, 552, 553, 554) her birine yönelik çok frekanslı dalga formunu oluşturan birçok frekansın her birindeki çıkış manyetik alanı ve ortaya çıkan manyetik alan arasındaki bir faz değişikliğini belirlemek üzere ve faz değişikliklerine bağlı olarak birçok elektromanyetik sensörde (420, 430, 440, 450, 551, 552, 553, 554) bir metal hedefin bir mikroyapısını belirlemek üzere birçok elektromanyetik sensörden (420, 430, 440, 450, 551, 552, 553, 554) verilen algılama sinyallerini alacak şekilde düzenlenmiş bir kontrol birimi (600).
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.