Sıcaklığa bağlı sezici dirençleri yardımı ile sıcaklık ölçümü için bir devrede, çeşitli sıcaklığa bağlı sezici dirençleri bir besleme geriliminin (Uv) bir değişikliği üzerinden seçilebilir ve ölçüm sonuçları iki kutuplu bir bağlantı üzerinden aktarılabilir. Burada en azından, birer yarı iletken yapı elemana ve bunlara seri bağlanmış sıcaklığa bağlı sezici dirençlerine sahip iki tane birinci tür birim yerleşimi ve hatta bir birinci tür birim yerleşiminden ve ona seri bağlanmış bir yarı iletken yapı elemanından yapılmış en azından bir ikinci tür birim yerleşimi öngörülmüştür. Her bir ikinci tür birim yerleşimi önceki birinci tür birim yerleşimine paralel bağlanmıştır. Bir ölçüm direnci bir birinci tür birim yerleşimine seri bağlanmıştır. Ölçüm direnci üzerinden kısmi akımlardan oluşan bir toplam akıma karşılık gelen bir gerilim düşer, ki burada her kısmi akım tam olarak bir birinci tür birim yerleşimden veya bir ikinci tür birim yerleşimden akar. (Bkz. Şekil 5)
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.