444 22 41
Sistem PatentSistem Patent
Menü
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Kontrollü Bir Manyetik Alanda Bozulma Ölçüm Aparatı.

Buluş Özeti

Kontrollü bir manyetik alandaki ve cihazın kendisi tarafından oluşturulan bozulmaların ölçülmesine yönelik, tek bir iletken elemanı, anteni veya elektrotu (101) çevreleyen ve elektrota (101) kapalı bir döngü içinde bağlanmış en az bir kontrollü manyetik alan sensörü (100) içeren bir cihazdır. Kontrollü manyetik alan sensörü (100), en az bir elektrota (101) bağlı bir osilatör devresi (102), bir dijital modül (103) ve dijital modüle (103) bağlı bir işlemci (105) içerir. Osilatör (102), ikincil sargısı (L1) elektrota (101) bağlı olan ve birincil sargısı (L2) osilatörün (102) aktif elemanına bağlı olan bir transformatöre (L1, L2) bağlanır. Osilatör, osilatörün (102) aktif elemanının en az bir giriş transistörünü (MIN) polarize etmek üzere konfigüre edilmiş bir polarizasyon ağını (RBIAS, VBIAS) içerir. Osilatörün (102) aktif elemanı tarafından oluşturulan sinyal, elektrot (101) içinde kontrollü bir manyetik alan oluşturur ve bu aynı sinyal, bir geri besleme ağı (RF, CF) vasıtasıyla osilatörün (102) aktif elemanının girişini (MIN) yeniden şarj eder. Osilatörün (102) aktif elemanının girişini (MIN) yeniden şarj eden aynı sinyal, işlemci (105) tarafından elde edilecek dijital modülde (103) dijital olarak işlenir.

IPC Sınıfları
G01D21/00H03K17/95G08B13/24H03K17/955
Taraflar
Buluş Sahibi
Juan Aponte Luis Ontech Securıty, Sl Parque Tecnológıco Aerospacıal Aerópolıs C/Hıspano Avıacıón 36, Nave 9 41309 La Rınconada İspanya
Hak Sahibi
Ontech Securıty, S.L. Parque Technologıco Aerospacıal Aeropolıs C/ Hıspano Avıacıon 36 - 9 41309 La Rınconada (Sevılla) İspanya
Vekil
Hande Mumcuoğlu (Mumcuoğlu Ve Ark Patent Ve Marka Dan. Ltd. Şti.) Mutlukent Mah. Mutluköy Sitesi 1943. Cad. No:10 06800 - Çankaya/Ankara

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.