Buluş, dikdörtgen biçiminde müstakil optik elemanların (41, 42) bir veya iki sırasından bir sensör (4) içeren bir optik algılayıcının (5) yardımıyla, ipliğin bir elektronik temizleyici (1) yardımıyla, sensör (4) parametrelerinin ve/veya ipliğin (2) kalitesinin en azından bir parametresinin izlenmesi için bir yöntem ile ilgili olup, böyleyken, müstakil optik elemanlar (41, 42), kendi ışımasının yoğunluğu ile orantılı bir analog sinyali çıkışlarında sağmakta olup, bunun değeri ise, her bir ölçüm döngüsü süresince izlenir. İpliğin (2) kalitesinin izlenen her bir parametresi için ve/veya sensörün (4) izlenen her bir parametresi için, sensörün (4) optik elemanlarının (41, 42) ilk ve/veya ikinci sırasında, sensörün (4) müstakil optik elemanları (41, 42), belirli bir parametrenin izlenmesi için etkin bir bölge oluşturur şekilde seçilir, böyleyken, bir sıra içerisindeki bir etkin bölge içerisindeki optik elemanların (41, 42) sayısı, karşılık gelen sıra içerisindeki optik elemanların (41, 42) genel tümden sayısından daha küçüktür ve karşılık gelen etkin bölgenin müstakil optik elemanlarının analog sinyal çıkışı, belirli bir parametrenin değerlendirilmesine dahil edilir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
