Boylamasına bir yönde uzunlamasına uzanan içi boş bir ekstrüzyon silindirine (4) sahip olan bir ekstrüderden (3) geçen bir polimerik malzeme (2) kütlesinin optik denetimine yönelik bir aparat (1) ve yöntem, ekstrüzyon silindirine (4) işlevsel olarak bağlanabilen ve ekstrüzyon silindiri (4) içinde polimerik malzemenin (2) optik bir özelliğini temsil eden bir ölçüm parametresini ölçmek için yapılandırılan kızılötesi bir ışık yayıcısı (8a) ve alıcısına (8b) sahip olan bir optik sensör içermektedir ve boylamasına yön boyunca ardışık olarak yerleştirilen ve birbirinden aralıklı olan çok sayıda ölçüm alanında ekstrüzyon silindirine (4) işlevsel olarak bağlanabilen çok sayıda optik sensör (8) ve karşılık gelen optik sensörler (8) tarafından ölçülen ölçüm parametrelerini içeren çok sayıda ölçüm sinyalini elde etmek üzere programlanan ve boylamasına bir konumun bir fonksiyonu olarak polimerik malzemenin (2) fiziksel bir halini gösteren bir kontrol parametresinin karşılık gelen çok sayıda değerini hesaplamak için çok sayıda ölçüm sinyalini işlemek üzere programlanan bir işlemci (9) içermesi ile karakterize edilmektedir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
