444 22 41
Sistem PatentSistem Patent
Menü
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Bir Manyetik Filtrede Manyetik Kalıntı Birikiminin Ölçülmesi

Buluş Özeti

Bir manyetik filtreye (100) yönelik bir manyetik kalıntı seviyesi ölçüm cihazı (10) açıklanmaktadır. Manyetik kalıntı seviyesi ölçüm cihazı (10) bir manyetometre ve bir sıcaklık sensörü (18) içermektedir. Sıcaklık sensörü (18) tarafından ölçülen sıcaklık, filtrede tutulan yakalanan manyetik kalıntı miktarını belirlemek için kullanılabilecek bir düzeltilmiş manyetometre okuma değerini hesaplamak için kullanılmaktadır. Cihaz (10) düzeltilmiş manyetometre okuma değeri için bir depolanan eşiğe sahiptir ve düzeltilmiş manyetometre okuma değeri, depolanan eşiği aştığında filtrenin dolu olduğuna dair bir bildirim verilmektedir. `Dolu? bildirimi verildikten sonra kalıntının yakalanmaya devam ettiği saptandığı takdirde, depolanan eşik buna göre güncellenecektir.

IPC Sınıfları
F24D19/00B03C1/00C02F1/48
Taraflar
Buluş Sahibi
Simon Downıe Matthew Taylor Kashem Pathan
Hak Sahibi
Adey Holdıngs (2008) Lımıted Unıt 2 St Modwen Park Haresfıeld Stonehouse Gloucestershıre Gl 10 3ez Birleşik Krallık
Vekil
Zehra Enligün (Ankara Patent Bürosu Anonim Şirketi)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.