Buluş, bir yöntem ve odak noktasına (20) doğru yakınlaşan bir lazer işleme ışını (12) içinde düzenlenmiş, lazer ışını güzergahından bir yansımanın (30) ayrıştırılmasına yönelik bir optik eleman (26), ve lazer işleme ışınının (12), odak noktası (20) bölgesinde kendi yayınım yönü boyunca ışın özelliklerinin belirlenmesi için, lazer işleme ışınının (12) ayrıştırılmış geri yansımasını (30) güncel odak konumunun belirlenmesine yönelik olarak ışın yayınımı yönü boyunca en az iki farklı yerde ölçmek için düzenlenmiş bir sensör düzeneğine (36) sahip, bir lazer ışınının, özellikle bir lazer işleme kafasının (10) içindeki bir lazer işleme ışınının bir odak konumunun saptanmasına yönelik bir cihaz ile ilgilidir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
