Bir uzunlamasına tekstil gövdesinde en az bir parametrenin, özellikle bir ipliğin ölçülmesi için bir kapasite sensör cihazı olup, bahse konu sensör cihazı: tekstil gövdesini almak için bir ölçüm hacmini (10), ana bir frekansta (f0) bir AC ölçüm voltajı (Vm) üretmek için adapte edilmiş olan bir AC voltaj üretecini (17), seri halde tanzim edilmiş olan bir ölçüm kapasitörünü (Cm) ve bir referans kapasitörü (Cr) içeren bir kapasitif ölçüm tertibatını (4), içerisinde bahse konu ölçüm kapasitörü (Cm), bahse konu ölçüm hacminin (10) zıt kenarlarında tanzim edilmiş olan iki elektrot (6b, 6c) içermekte olup, ve içerisinde bahse konu ölçüm tertibatı (4) bir çıkış sinyali üretmek üzere adapte edilmiş olan bir çıkışa (OUT) sahip olup, içerisinde bahse konu çıkış ölçüm kapasitörü (Cm) ve referans kapasitör (Cr) arasında yerleştirilmiş olup, bahse konu çıkış sinyalini yükseltmek için bir sinyal yükselticisini (A3), bir kontrol birimini (28) ve bir kayma dengeleyicisini (32) içeren bir kayma kompanzasyon devresini (34) içermekte olup, içerisinde bahse konu kayma dengeleyicisi (32) bahse konu ölçüm kapasitörü (Cm) ve bahse konu referans kapasitör (Cr) arasındaki bir asimetriyi telafi etmek için adapte edilmiş olup, ve içerisinde bahse konu kontrol birimi (28), bahse konu çıkış sinyalinin bir genliğine yanıt olarak bahse konu kayma dengeleyicisini (32) kontrol etmek üzere adapte edilmiş olup, özelliği; bahse konu kayma dengeleyicisinin (32) bahse konu ölçüm voltajı (Vm) ile senkron halinde bir AC kompanzasyon (i2) sinyali üretmek üzere adapte edilmiş olan bir kompanzasyon dalga formu üretecini (S3) içermesi ile, burada bahse konu kompanzasyon dalga formunun (S3), bahse konu ölçüm tertibatının(4) çıkışından (OUT) bahse konu yükselticinin (A3) bir girişine doğru olan bir sinyal yolu boyunca konumlandırılmış olan bir düzeltme noktasına (P1) bağlanmış olması ile karakterize edilir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.