Buluş, tek kaynak enerji kaynağı ve çoklu detektör yapısı olan X-ışını görüntüleme sistemlerinde elde edilen görüntülerde gerçekleşen açısal bozulmaların ortadan kaldırılması için tek bir nesne görüntüleme işlemiyle, tasarlanan bir ölçümleme nesnesi üzerinden hızlı ve etkin ölçümleme yapılmasını sağlayan bir yöntem ile ilgilidir. TR 2021 020459 A2
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
