444 22 41
Sistem PatentSistem Patent
Menü
Patent Başvurusu

Ekstrasellüler Vezikül Karakterizasyonunda Heterojenite Ve Saflık Analizi Yöntemi

Buluş Özeti

Buluş, ekstrasellüler vezikül numunelerinin hem boyutsal açıdan hem de kargo içeriği yönünden heterojenite ve saflık analizini yapmak amacıyla kullanılacak bir yöntem ve bu yöntemi gerçekleştirecek bir ekstrasellüler vezikül karakterizasyon ve analiz sisteminden (1) meydana gelmektedir. Bahsedilen ekstrasellüler vezikül karakterizasyon ve analiz sistemin (1), ekstrasellüler veziküllerin fenotipsel analizini sunacak bir atomik kuvvet mikroskobu (2) ve konfokal Raman spektrometresi (3) alt sistemlerinden meydana gelmektedir. Atomik kuvvet mikroskobu (2) ile elde edilen topografik görüntülerin çeşitli görüntü işleme yöntemleriyle işlenmesi ve istatistiksel yahut makine öğrenme yöntemleriyle analiz edilmesi sayesinde ekstrasellüler vezikül numunelerinin boyutsal açıdan heterojenitesi nicelleştirilebilmekte, saflığına dair de boyut dağılımı bilgisine bağlı olarak bir bilgi sunulabilmektedir. Uçta güçlendirilmiş Raman spektrumu yöntemini uygulayan konfokal Raman spektrometresi (3), topografik koordinatları bilinen ekstrasellüler veziküllerin tekli spektrum ölçümlerini çeşitli makine öğrenmesi, sinir ağı, desen analizi ve istatistik yöntemleriyle birleştirerek ekstrasellüler veziküllerin kargo analizine dayalı bir heterojenite analizi gerçekleştirmekte, numunenin saflığına dair kantitatif bir veri sunmaktadır. TR 2022 009394 A2

IPC Sınıfları
G01N 33/00
Taraflar
Başvuran
Lua Optomekatronik Arge Anonim Şirketi Maltepe Mah. Eski Çırpıcı Yolu Sk. Parima 8 14 Zeytinburnu İstanbul Türkiye
Buluş Sahibi
Tayfun Tatar Onur Samet Yıldırım
Vekil
Özlem Yokuş (Mezon Patent Dan. Müh. San. Ve Tic. Ltd. Şti.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.