Buluş bir iplik fabrikasındaki (M) bir arızayı (dF) saptamak ve arızanın bir veya daha fazla kaynağını (eS1, eS2) tahmin etmek için bir cihaz ve bir yöntem ile ilgilidir. İplik fabrikası (M), tekstil malzemelerinin (1, 2, ..., 9) sıralı olarak işlenmesi için çok sayıda tekstil makinesini (12, 23, ..., 89) içerir. Elektronik cihaz aşağıdaki adımları gerçekleştirmek üzere konfigüre edilmiştir: bir veya daha fazla tekstil makinesinin (12, 23, ..., 89) ve bir veya daha fazla tekstil malzemesinin (1, 2, ..., 9) parametre bilgilerinin (p1, p2, ..., p9) alınması, tekstil malzemelerinin (1, 2, ..., 9) referans bilgilerinden sapan parametre bilgilerini (p1, p2, ..., p9) tanımlayarak arızanın (dF) ve yerinin tespit edilmesi, iplik fabrikasının (M) tekstil makinelerinin (12, 23, ..., 89) konfigürasyon bilgilerine (cl) erişilmesi, iplik fabrikasındaki (M) olası arızaların (dF') olası kaynakları (eS') hakkında bilgi ile ilgili bilgi birikimine dayalı bilgilere (kl) erişilmesi ve arızanın (dF) bir veya daha fazla kaynağını (eS1, eS2) tahmin etmek için parametre bilgilerinin (p1, p2, ..., p9), konfigürasyon bilgilerinin (cl) ve bilgi birikimine dayalı bilgilerin (kl) bir veya daha fazla makine öğrenimi algoritmasına uygulanması.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
