Patent Başvurusu

X-Işını Görüntüleme Sistemleri İçin Bir Etkin Atom Numarası Tespit Yöntemi

Buluş Özeti

Bu buluş, materyallerin farklı enerji seviyelerine farklı tepki vermelerine bağlı olarak özellikle iki farklı enerji seviyesi olmak üzere farklı enerji seviyeleriyle gerçekleştirilen X-ışını görüntüleme sistemlerinde kullanılmaya uygun olan bir etkin atom numarası tespit yöntemi (100) ile ilgilidir. TR 2022 014789 A2

IPC Sınıfları

G01N 23/083G01N 23/20

Taraflar

Başvuran

Aselsan Elektronik Sanayi Ve Ticaret Anonim Şirketi Mehmet Akif Ersoy Mah. İstiklal Marşı Caddesi Cad. 16 0 Yenimahalle Ankara Türkiye Havelsan Teknoloji Radar (Htr) Sanayi Ve Ticaret Anonim Şirketi Çınar Mah. Çankırı Blv. 98 Akyurt Ankara Türkiye

Buluş Sahibi

Büşra Küçükateş Cevahir Çığla Şükrücan Taylan Işıkoğlu Duygu Selin Ak Ozan Yalçın

Vekil

Meral Bozkaya (Destek Patent A.Ş.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.