Buluş, iplik imal etmek üzere bir eriyikten eğirme prosesinin kontrol edilmesine yönelik bir yöntem ve ayrıca sentetik iplik imal edilmesine yönelik bir eriyikten eğirme aparatı ile ilgilidir. Burada, bir eriyikten üretimin, bir filaman ektrüzyonunun, bir iplik işlemenin ve bir iplik sarımının birden çok proses adımının birden çok proses parametreleri izlenir. Buna ek olarak, her bir iplikte birden çok durum parametresinden en az biri izlenir. Durum parametrelerinin ilgili gerçek değerleri ve proses parametrelerinin ilgili gerçek değerleri birlikte analiz edilir. Hedeflenen bir süreç müdahalesini mümkün kılmaya yönelik olarak, durum parametrelerinin gerçek değerlerinden ve proses parametrelerinin gerçek değerlerinden, proses parametrelerinden birinin en az bir hedef değeri belirlenir ve ilgili proses adımı süreç parametresini ayarlamak üzere otomatik olarak yeniden yönlendirilir. Eriyikten eğirme aparatı, proses adımlarını gerçekleştirmek üzere bir eriyikten üretme cihazına, bir eriyikten eğirme cihazına, bir işleme cihazına ve bir sarım cihazına sahiptir. Cihazları kontrol etmek üzere, durum parametrelerini almak amacıyla bir izleme cihazına ve proses parametrelerini almak amacıyla proses adımlarını yönlendirmek üzere cihazlara bağlı olan bir makine kontrol cihazı sağlanır. Bu durumda, makine kontrol cihazı, cihazlardan birinin proses adımlarından birinin otomatik olarak durum parametrelerinin gerçek değerlerinden ve proses parametrelerinin gerçek değerlerinden proses parametrelerinden birinin hedef değerine yeniden yönlendirilmesine yönelik olarak en az bir kontrol komutu üretmek amacıyla bir yeniden yönlendirme modülüne sahiptir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.