Buluş, bir tekstil makinesinde, özellikle bir tarak makinesinde, bir cer makinesinde veya bir penye makinesinde mikrodalga rezonatörün (1, 1', 1", 1?) bir rezonatör odasında (5, 5') düzenlenmiş bir ölçüm odasından (6, 6') kesintisiz olarak taşınan iplik şeklindeki elyaf malzemenin (FM) kalınlığını ve/veya nemini ölçmek için bir ölçüm cihazına yönelik bir mikrodalga rezonatör ile ilgilidir. Buluşa göre, ölçüm odası (6, 6') boyunca rezonatör odasında (5, 5') en az bir elektriksel olarak iletken olmayan malzeme birimi (10, 10', 10", 10?, 10"", 10'") önerilmektedir, söz konusu malzeme birimi, elyaf malzemenin (FM) amaçlanan akış yönünde (LR) değişken bir kesit yüzeyine sahip bir giriş tarafı kısmına (11, 11', 11", 11?, 11"", 11""') ve/veya elyaf malzemenin (FM) amaçlanan akış yönünde (LR) değişken bir kesit yüzeyine sahip bir çıkış tarafı kısmına (12, 12', 12", 12?, 12"", 12""') sahiptir, burada malzeme biriminin (10, 10', 10", 10?, 10"", 10'"") giriş tarafı kısmının (11, 11', 11", 11?, 11"", 11'"") kesit yüzeyi, elyaf malzemenin (FM) akış yönünde (LR) görülen biçimde artmaktadır ve/veya malzeme biriminin (10, 10', 10", 10?, 10"", 10'"") çıkış tarafı kısmının (12, 12', 12", 12?, 12"", 12'"") kesit yüzeyi, elyaf malzemenin (FM) akış yönünde (LR) görülen biçimde azalmaktadır.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
