444 22 41
Sistem PatentSistem Patent
Menü
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Kart Test Aparatı

Buluş Özeti

Bir kart test aparatı ve yöntem ve özellikle arıza karakteristiklerine yönelik kıvrımlı mukavva gibi kıvrımlı bir materyalden yapılmış bir kartı test etmeye yönelik bir test aparatıdır. Yöntem, bir oluk açma makinesi veya dönüştürücüden bir kıvrımlı kartın alınmasını, bir test makinesi içine kartın en azından bir parçasının konumlandırılmasını, makine içinde kartın parçasının bir numune bölgesi üzerinde tahrip edici olmayan bir sıkıştırma testinin gerçekleştirilmesini ve kıvrımlı kartın tasarımının sahip olması gerektiği önceden tanımlanan kabul edilebilir bir sıkıştırma test karakteristik okumasına karşı bu karakteristik okuması karşılaştırılarak ve kartın veya kartın bu numune bölgesinin gereken bir sıkıştırma sertlik parametresini karşılayıp karşılamadığına dair karşılaştırmadan sonuç çıkarılarak kartın bu bölgesinin bir karşılaştırma test karakteristik okumasının sağlanmasını içerir.

IPC Sınıfları
G01N3/08G01N3/20G01N33/34
Taraflar
Buluş Sahibi
Lyndon Geraınt Jenkıns Davıd George Rıch
Hak Sahibi
Ds Smıth Packagıng Ltd 350 Euston Road London Nw1 3ax Birleşik Krallık
Vekil
Tolga Çaylak (Dış Patent Marka Tescil Ve Danışmanlık Hiz. Ltd. Şti.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.