Bu buluş manyetik nanoparçacıkların tespiti veya görüntülenmesine yönelik bir manyetik alan ölçüm tertibatı (1) ile ilgilidir. Manyetik alan ölçüm tertibatı (1); çok sayıda manyetik parçacık içeren ölçüm yapılacak olan bir algılama bölgesinde (SR) manyetik parçacıkları hemen hemen eş yönlü olarak manyetize eden bir birinci manyetik alan (MF1) ve birinci manyetik alanın (MF1) dışında manyetik alanın sıfırlandığı çizgiler (MFL) oluşturmak üzere yapılandırılan en az en az bir gönderme bobini (2), en azından gönderme bobinini (2) sürmek üzere yapılandırılan en az bir bobin sürücü ve kontrol devresi (3), elektromanyetik enerji ile uyarıldığında elektron spin ve enerji durumu değiştirilebilen en az bir kusur merkezine (DC) sahip olan en az bir yarı iletken malzeme (4), yarı iletken malzeme (4) yapısında bulunan kusur merkez(ler)ini (DC) optik olarak uyarmak ve bu optik uyarıya bağlı olarak kusur merkezleri (DC) tarafından yapılan ışımayı algılamak üzere yapılandırılan en az bir optik algılayıcıya (şekillerde gösterilmemektedir) sahip olan en az bir optik düzenek
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.