Sistem Patent
Patent Başvurusu

Kamera İle Lazer Işın Örneklemeli Otonom Lenfödem Ölçüm Sistemi Ve Algoritması

Buluş Özeti

Bu buluş, lenfödemin objektif bir şekilde değerlendirilmesine ve evrelemesine imkân tanıyarak kamera ile lazer ışın örneklemeli otonom lenfödem ölçüm sistemi ve algoritması ile ilgili olup, özelliği; ölçümü yapılacak uzvun işaretlenmesini sağlayan lazer (L), uzuv üzerine gönderilen referans ışıklara ait görüntü verilerini tespit etmek için kullanılan kamera (C1), lazer (L) ışık kaynaklarının ve kameranın (C1) konumlandığı ve kendi etrafında ve aşağı-yukarı yönlü hareket ederek çok yönlü örnekleme sağlayan hareketli disk (D1), hareketli diskte (D1) konumlandırılmış olan G3 dişlisi (G3) ile senkronize hareket ederek hareketli diskin (D1) yatay yönde dönüşünü gerçekleştiren yatay hareket motoru (M1), dikey platform üzerinde konumlandırılmış olan G2 dişlisi (G2) ve G4 dişlisi (G4) ile senkronize hareket ederek hareketli diskin (D1) aşağı ve yukarı yönde hareketi gerçekleştiren dikey hareket motoru (M2), görüntü verilerinin görüntü işleme tabanlı algoritmalar aracılığıyla analizini sağlayan ve geliştirilen yapay zekâ tabanlı yazılım algoritmasına girilerek işlenen parametrelere göre sistemin hareketini modelleyerek uzvun ölçümünü sağlayan kontrolör ünitesi (P1), sabitleyici disk (D2) üzerine konumlandırılan ve ilgili uzvun sabitlenmesini sağlayan R1 sabitleyicisi (R1) ve R2 sabitleyicisi (R2), sabitleme tepsisi (F1) üzerine uzvun hareketsiz bir şekilde konumlanmasını sağlamak için R3 sabitleyicisi (R3) ve R4 sabitleyicisini (R4) içermesidir. TR 2022 018374 A2

IPC Sınıfları
A61B 5/00
Taraflar
Başvuran
Bandırma Onyedi Eylül Üniversitesi Yeni Mah. Ş.Ast.Mustafa Soner Varlık Cad. 77 Bandırma Balıkesir Türkiye
Buluş Sahibi
Ebru Kaya Mutlu Emrah Dönmez Esra Keskin Burçin Akçay Ozan Bahadır Türkmen Aykut Diker
Vekil
Gökhan Çimen (Kuantum Patent A.Ş.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.