Sistem Patent
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Ortam Viskoelastisitesini Ölçmeye Yönelik Yöntem Ve Cihaz

Buluş Özeti

Bir ortamın viskoelastisitesini ölçmeye yönelik bir yöntem olup, şunları içermektedir: ortam bir titreşim uyarımına tabi tutulduktan sonra titreşim yayılımının konum-zaman grafiğinin elde edilmesi, maksimum sinyal enerjisine sahip açının konum- zaman grafiğinin bir eğimine karşılık geldiği ve konum-zaman grafiğinin eğiminin ortamdaki titreşimin yayılım hızı olduğu açı projeksiyonu kullanarak konum-zaman grafiğinde maksimum sinyal enerjisine sahip açının belirlenmesi. Titreşimin ortamdaki yayılım hızı ortamın viskoelastisitesi ile ilgili olduğundan, ortamın bir viskoelastisite parametresi, konum-zaman grafiğinin eğimi elde edildikten sonra nicelik bakımından hesaplanabilmektedir. Bu yöntemin konum-zaman grafiğinin eğiminin hesaplanması için konum-zaman grafiğinden bir özellik noktası seçmesine gerek yoktur, gürültüden etkilenmez, az bir hesaplama miktarına sahiptir ve ortamın viskoelastisitesini verimli ve doğru bir şekilde ölçebilmektedir.

IPC Sınıfları
A61B8/00A61B8/08G01S7/52
Taraflar
Buluş Sahibi
Qiong He Jinhua Shao Qiang Wang Houli Duan Jin Sun
Hak Sahibi
Wuxı Hısky Medıcal Technologıes Co., Ltd. B401 530 Plaza, Unıversıty Scıence Park Taıhu Internatıonal Scıence & Technology Park Xınwu Dıstrıct, Wuxı Jıangsu 214000 Çin
Vekil
Uğur Gürşad Yalçıner (Yalçıner Patent Ve Dan. Ltd. Şti.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.