Buluşa konu ölçüm sistemi ile elektrik - elektronik iletkenliği ölçülmesi istenen katı malzemelerin (numunelerin) hem altından (omik yüzeyi, + kutubundan ) hem de üstünden ( schottky yüzeyi, - kutubundan ) sağlanan elektriksel iletim sayesinde katı cisimlerin fiziksel parametrelerini; ((elektron konsantrasyonunu (n), sürüklenme hızını (Vd), akım yoğunluğunu (J), iletkenliğini (G), öziletkenliğini (?), direncini (R), özdirencini (?), harcayacağı enerjiyi (W) ve gücünü (P)) ölçme/hesaplaması yapılmasını sağlayan sistem ile ilgilidir. TR 2023 003328 A2
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.