Buluş, çevre koşulları ve kaynak bilgisini verilerinin bir makine öğrenmesi modelinde işlenmesi ile hem elektrik alan hem demanyetik alan kaynaklı kirliliklerin hem düşük frekans (ELF) hem de yüksek frekans (RF) bandında hesaplanarakelektromanyetik radyasyon kirlilik ölçümünün gerçek zamanlı olarak tahmin edilmesini sağlayan bir elektromanyetik kirlilikölçüm yöntemi ile ilgilidir. TR 2023 004407 A2
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.
