Buluş, en az bir iş parçasının yüzeyinde yer alan en az bir pürüzü veya iş parçasının yüzey topolojisini 1 nanometre ile 1 santimetre aralığındaki hassasiyetle tespit etmek üzere; en az bir görüntü algılayıcı birim (1.3), katı yüzeye dokundurularak ölçüm alan en az bir elastomerik malzeme (1.1.1) ve en az bir cam (C) içeren en az bir elastomerik sensör (1.1), söz konusu iş parçasına (veya malzemeye) ışık yansıtacak şekilde ayarlanabilen ve bahsedilen elastomerik malzemenin (1.1.1) içerdiği en az bir tercihen dört yanındaki yuvaya konumlandırılan en az bir aydınlatma birimi (1.2), nm ila cm?lik bir aralıkta görüntü alan ve aldığı görüntüyü en az bir kontrol birimine (2.1) ileten en az bir görüntü algılayıcı birim (1.3), söz konusu görüntü algılayıcı birimi (1.3) zemine göre dik eksende yani ?Z? ekseninde hareket ettirmek üzere en az bir tahrik birimi (1.4) ve görüntü algılayıcı birimin (1.3) ?Z? ekseninde hareketini sağlayan söz konusu tahrik biriminin (1.4) konumlandırıldığı en az bir şase (1.5) içeren en az bir ölçüm ünitesi (1) ve görüntü algılayıcı birimden (1.3) alınan görüntüyü dijital veriye çeviren en az bir kontrol birimi (2.1) ve bir görüntü işleme yazılımı içeren en az bir dijital cihaz (2), bahsedilen görüntü algılayıcı birimin (1.3) dolayısıyla ölçümün harici bir ışık kaynağından etkilenmesini engellemek üzere ve ışık yansıması olmayacak şekilde bahsedilen ölçüm ünitesinin (1) veya düzeneğin (10) etrafını tamamen siyah veya mat plakalar ile kapatan en az bir karanlık alan (3), ışığın pürüze vurması ile ortaya çıkan gölgeden yani pürüzün ışığa karşı göstermiş olduğu dirençten kaynaklı gölgeden faydalanarak ortamı standardize eden ve gölgenin koyuluğu, boyu, şeklinden faydalanarak iki boyutlu bir görüntüden 3. Boyutu hesaplayan ve böylece görüntü algılayıcı birimle (1.3) eş zamanlı çalışarak alınan görüntüyü dijital veriye çeviren en az bir kontrol birimi (2.1) içeren bir ölçüm düzeneği
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.