Sistem Patent
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Yüksek Frekansta Deplasman Ölçüm Düzeltmesi.

Buluş Özeti

Buluşun bir yönü, bir test numunesine (12) yük uygulamaya yönelik bir test sistemidir (10). Test sistemi (10) bir aktüatör (14) ve aktüatörü (14) destekleyen bir birinci destek kısmını (15) içerir. Aktüatör (14), test numunesinin (12) bir birinci ucunu desteklemek üzere konfigüre edilirken, bir ikinci destek kısmı (13) test numunesinin (12) bir ikinci ucunu desteklemek üzere konfigüre edilir. Çeşitli yapılandırmalarda, deplasman sensörü ve/veya ivmeölçer(ler) içerebilen sensörlerin kombinasyonu, test numunesinin (12) birinci ucu ile ikinci ucu arasındaki diferansiyel deplasmanı gösteren bir deplasman çıkış sinyali sağlamak üzere konfigüre edilen bir deplasman kompansatörü (50; 50'; 60) tarafından alınan ilişkili çıkış sinyalleri sağlar.

IPC Sınıfları
G01N3/32
Taraflar
Buluş Sahibi
Brian Robert Kerr John Byron Saarı
Hak Sahibi
Mts Systems Corporatıon 14000 Technology Drıve Eden Praırıe, Mn 55344-2290 A.B.D.
Vekil
Erkan Sevinç (İstanbul Patent A.Ş.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.