Sistem Patent
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Temel Malzeme Sökümü Kullanılarak Çok Enerjili X - Ray Görüntüsünün Değerlendirilmesi İçin Yöntem Ve Cihaz

Buluş Özeti

Mevcut buluş, temel malzeme ayrıştırması yoluyla çok enerjili bir X - ray görüntüsünü değerlendirmek için bir yöntemle ilgilidir. Buluş ayrıca yöntemin kullanıldığı bir aparatla ilgilidir.

IPC Sınıfları
G01N23/00G01N23/04G01N23/087
Taraflar
Buluş Sahibi
Alexander Ennen Markus Firsching
Hak Sahibi
Fraunhofer-Gesellschaft Zur Förderung Der Angewandten Forschung E.V. Hansastr. 27c 80686 München Almanya
Vekil
Meral Bozkaya (Destek Patent A.Ş.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.