Buluş, manyetik kalkanlama özelliği kazandırılmış nikel alaşımların, yüksek manyetik alan altında fiber optik sensörlerden oluşan interferometrik bir sistemi kullanılarak malzemeye zarar vermeden manyetik alan geçirgenliği verim karakterizasyonunun yapılabilmesini sağlayan kalkanlama karakterizasyonu için bir test düzeneği ve yöntem ile ilgilidir. TR 2023 016384 A1
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.