Bir Lehim Kontrol Metodu

Buluş, elektronik devre komponentlerinin bir platform (3) üzerine tedarik edilmesi, bir devre kartı üzerine elektronik devre komponentlerinin iletken uçlarının yerleştirilmesi işlem adımlarını içeren bir lehim kontrol metodu ile ilgilidir. Lehim kontrol metodu, bir birinci kamera (30) tarafından devre kartına lehimlenen iletken uçların bir birinci yüzünün (10) bir birinci görüntüsünün bir kontrolöre (40) iletilmesi, kontrolör (40) tarafından birinci görüntünün önceden eğitilmiş bir yapay zeka modülü (42) yardımıyla analiz edilmesi ve analiz sonuçlarının bir giriş sinyali oluşturarak kontrolör (40) tarafından üretime uygunluk durumuna göre bir çıkış sinyali oluşturması, çıkış sinyali alan bir lehimleme makinesi tarafından iletken uçların lehim işleminin gerçekleştirmesi ve lehimleme işlemi sonrasında bir ikinci kamera (50) tarafından lehim yapılan birinci yüzünün (10) bir ikinci görüntü olarak kontrolöre (40) iletilmesi ve kontrolör (40) tarafından ikinci görüntünün önceden eğitilmiş bir yapay zeka modülü (42) yardımıyla analiz edilmesi ve üretime uygunluk halinde bir çıkış verisi haline getirmesi işlem adımlarını içermektedir. TR 2024 000664 A2