İnkoherent milimetre dalga, milimetre altı dalga ve terahertz test sinyalleri, substratın doğrudan değerlendirilmesini engelleyen boya veya ısı yalıtımı gibi koruyucu bir kaplama veya dış tabakayla kaplı metal substratları incelemek için kullanılır. Doğal olarak oluşan pasif bir kaynaktan (gökyüzü gibi) ve/veya aktif bir gürültü kaynağından gelebilen inkoherent test sinyalleri, substrata açısal gelişe göre test sinyallerinin sinyal dağılımını ve açısal değişimini sağlar. Substratın aydınlatılması, numunenin aşınmamış ve aşınmış bölümleri arasında ayrım yapılmasına izin verir, çünkü metal bazlı bir substrattan yansıtıcılık (ve yayıcılık) büyük ölçüde yüzey direncine bağlıdır ve bu da aşınmış duruma bağlıdır. Bir dedektör/kamera, substrattan yansımaları alacak şekilde düzenlenmiştir ve ilgili bir kontrol sistemi, numunenin test sinyali aydınlatmasını farklı yansıtan veya başka bir şekilde bir referans değerden bir varyasyon gösteren bölgelerini tanımlar. Bu nedenle farklılıklar, korozyonun varlığına veya yokluğuna ya da substrat içinde veya üzerinde başka anormalliklerin varlığına işaret eder.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.