Sistemler, yöntemler ve aparatlar, örneğin sıralı koherent görüntüleme (ICI) sırasında bir iş parçası veya işleme bölgesine yönlendirilen bir görüntüleme ışınına yönelik hesaplanan görüntüleme sinyal yoğunluğu kullanılarak materyal işlemeyi izlemek için kullanılır. Görüntüleme sinyal yoğunluğu örneğin, tam veya kısmi nüfuzlu kaynak gibi lazer veya elektron ışını kaynak proseslerini izlemek üzere kullanılabilir. Bazı örneklerde görüntüleme sinyal yoğunluğu, bir anahtar deliği zemininden ve/veya anahtar deliğinin altında bir alt yüzey yapısından yansımaların bir sonucu olarak kaynak nüfuzunu gösterir. İzleme örneğin, kaynak veya materyal işleme veya bu şekilde üretilen parçaların otomatikleştirilmiş başarılı/başarısız veya kaliteli değerlendirmesini içerebilir. Görüntüleme sinyal yoğunluğu ayrıca, geri bildirim olarak bir görüntüleme sinyal yoğunluğu verisi kullanılarak kaynak veya materyal işlemeyi kontrol etmek üzere kullanılabilir. Görüntüleme sinyal yoğunluğu, tek başına veya mesafe veya derinlik ölçümleri gibi diğer ölçümler veya ölçüler ile birlikte kullanılabilir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.