Sistem Patent
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Bir Senaryonun Yüzey Deformasyonlarının İzlenmesine Yönelik Yöntem Ve Aparat

Buluş Özeti

Diferansiyel interferometri tekniği aracılığıyla bir senaryonun yüzey deformasyonlarının izlenmesine yönelik yöntemdir, söz konusu yöntem şu adımları içerir: radar sinyallerinin iletimi ve edinimi için düzenlenmiş en az bir verici anten ve bir alıcı anten içeren bir radar sensörünün önceden düzenlenmesi, söz konusu radar sensörü, merkezi (0) olan bir düzlemsel yörünge (y) boyunca hareket edecek şekilde düzenlenir; söz konusu merkezde (0) orijini bulunan bir referans sistemin (S) tanımlanması; söz konusu radar sensörünün söz konusu düzlemsel yörünge (y) boyunca taşınması aracılığıyla SAR tekniği ile söz konusu senaryonun elde edilmesi, söz konusu radar sensörü söz konusu antenlerin ışıma modeli söz konusu merkeze (0) göre radyal olarak yönlendirilecek şekilde yapılandırılır, söz konusu edinim söz konusu yörünge (y) üzerinde düzenlenmiş edinim noktalarında (s i) gerçekleştirilir ve her edinim noktası (s i) için çok sayıda veri elde edilir; - söz konusu senaryonun çok sayıda hedef noktasının (t i) tanımlanması, her bir hedef noktanın (t i) üç boyutlu konumu söz konusu referans sisteme (S) atıfta bulunan küresel koordinatlar (ρ , θ i, β i) aracılığıyla tanımlanabilir, söz konusu koordinatların değerleri (ρ ve θ i) bilinir. Yöntem ayrıca, önceden belirlenmiş ve ß 0'a eşit bir ß i değeri göz önünde bulundurularak her bir hedef noktanın (t i) kendi konumuna göre bir birinci edinim yüksekliğinde (h a 1) odaklanması, önceden belirlenmiş ve ß 0'a eşit bir ß i değeri göz önünde bulundurularak her bir hedef noktanın (t i) kendi konumuna göre bir ikinci edinim yüksekliğinde (h a 2 &#8800#& h a 1) odaklanması, interferometrik teknik aracılığıyla edinim yüksekliklerinde (h a 1 ve h a 2) söz konusu odaklamaların kontrol edilmesi ve her bir hedef nokta için söz konusu koordinatın (ß i) bir değerinin elde edilmesi adımlarıyla söz konusu hedef noktaların (t i) üç boyutlu olarak belirlenmesi adımını içerir. Yöntem ayrıca, her bir hedef noktanın (t i) söz konusu küresel koordinatlar (ρ , θ i, β i) ile tanımlanabilen kendi üç boyutlu konumuna göre küresel olarak odaklanması ve bir birinci odaklanmış radar verisi elde edilmesi adımını sağlar, söz konusu odaklama adımı her bir hedef nokta (t i) için her bir edinim noktasında (s i) elde edilen verilerin analiz edilmesiyle elde edilir, burada söz konusu hedef nokta (t i) tespit edilebilirdir.

IPC Sınıfları
G01S13/90
Taraflar
Buluş Sahibi
Alberto Mıchelını Francesco Coppı
Hak Sahibi
Ids Georadar S.R.L. Vıa Carduccı 32 20123 Mılano İtalya
Vekil
Filiz Ark (Mumcuoğlu Ve Ark Patent Ve Marka Dan. Ltd. Şti.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.