Sistem Patent
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Tam Otomatik Mikroorganizma Tanımlama Ve İlaç Duyarlılık Analiz Sistemi.

Buluş Özeti

Mevcut buluş, tam otomatik bir mikroorganizma tanımlama ve ilaç duyarlılığı analiz sistemi sağlar. Sistem, tüm muhafazanın bir iç haznesinde bir numune ekleme biriminin, bir numune tanımlama ve kayıt biriminin, bir mikroplaka taşıma biriminin, bir inkübasyon biriminin, bir test biriminin ve bir mikroplaka transfer biriminin sağlandığı bir tam muhafaza içerir; numune ekleme ünitesi, bir pipet ucunun montajını/sökülmesini, bir pipet gövdesinin aspirasyonunu ve bir mikroplaka üzerine numune ilavesini otomatik olarak gerçekleştirir; numune tanımlama ve kayıt birimi, numune ekleme biriminin bir tarafında bulunur ve numune ile doldurulmuş bir numune şişesinin taramasını, kaydetmesini ve otomatik olarak seçmesini gerçekleştirir; mikroplaka taşıma ünitesi, numune ekleme ünitesinin diğer tarafında bulunur ve mikroplakanın yüklenmesi, taranması ve kaydedilmesi için kullanılır; inkübasyon ünitesi, numune eklendikten sonra mikroplakayı inkübe eder; test birimi, inkübe edildikten sonra mikroplaka üzerinde mikrobiyal tanımlama ve ilaç duyarlılığı testi gerçekleştirir; mikroplaka transfer ünitesi, mikroplaka taşıma ünitesi, numune ekleme ünitesi ve inkübasyon ünitesi arasında bir bağlantı mekanizması görevi görür; mikroplak transfer ünitesi, mikroplakayı mikroplak taşıma ünitesinden numune ekleme ünitesine aktarır ve daha sonra mikroplakayı numune ekleme ünitesinden inkübasyon ünitesine aktarır. Mevcut buluş, basit ve rahat çalışma, büyük hacimli numune işleme ve yüksek derecede otomasyon avantajlarına sahiptir.

IPC Sınıfları
C12M1/00G01N35/00C12M1/34G01N35/04
Taraflar
Buluş Sahibi
Yehuan Zheng Zhen Xu Feng Yu Xiaorui Wu Hongchao Jı Lizheng Duan Shoupu Yı Cong Lıu
Hak Sahibi
Autobıo Labtec Instruments Co., Ltd. No.199, 15th Avenue, Natıonal Economıc And Technologıcal Development Zone Zhengzhou, Henan 450016 Çin
Vekil
Fulya Sümeralp (Simaj Patent Dan. Ltd. Şti.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.