Sistem Patent
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Nötrün Ayrılması İle Kurcalamayı Önleyebilen Tek Fazlı Elektrik Enerjisi Ölçüm Çipi.

Buluş Özeti

Nötrün ayrılması ile kurcalama önlemeyi gerçekleştirebilen tek fazlı bir elektrik enerjisi ölçüm çipi sağlanır; burada bir çalışma modu kontrol devresi, bir ana kontrol çipi tarafından gönderilen bir kontrol sinyalini almak için yapılandırılır; bir ADC örnekleme devresi, bir dijital sinyal elde etmek için bir akım sinyalini örneklemek için yapılandırılır; bir akım etkin değeri ölçüm devresi, bir akım etkin değerini ölçmek için yapılandırılır; bir nötrün ayrılması ile kurcalama önleme karar devresi, bir akım döngüsünün bir akıma sahip olup olmadığını değerlendirmek için dijital sinyali önceden değerlendirmek ve akım döngüsünün bir akıma sahip olması durumunda, akım etkin değerini doğru bir şekilde değerlendirmek ; ve mevcut etkin değer nötrün ayrılması ile kurcalamayı önleme eşiğini aşarsa, nötrün ayrılması ile kurcalamayı önleme ölçümünün yapılması gerektiğine karar vermek için yapılandırılır; bir elektrik enerjisi ölçüm devresi, bir enerji darbesi elde etmek için mevcut etkin değer üzerinde enerji hesaplaması yapmak için yapılandırılır; ve bir saat devresi, tek fazlı elektrik enerjisi ölçüm çipindeki bir devre için bir saat kaynağı sağlamak için yapılandırılır. Nötrün ayrılması ile kurcalamayı önleme ölçüm işlevi tek fazlı elektrik enerjisi ölçüm çipine entegre edilir ve bir MCU elektrik çalınmasını önleme ölçümüne katılmaz, böylece MCU tasarımı basitleştirilir ve nötrün ayrılması ile kurcalamayı önleme güç tüketimi azaltılır.

IPC Sınıfları
G01R11/24
Taraflar
Buluş Sahibi
Bo Chen Guoyu Cuı Changyou Men
Hak Sahibi
Hangzhou Vango Technologıes, Inc. 368 Lıuhe Rd, Ste A4070, North Bldg Hı-Tech Park Bınjıang Hangzhou, Zhejıang 310053 Çin
Vekil
Filiz Ark (Mumcuoğlu Ve Ark Patent Ve Marka Dan. Ltd. Şti.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.