[Amaç] Amaç, yalnızca bir durum anomalisini değil, aynı zamanda bir yüksek fırında durum anomalisinin ön belirtisini de tespit edebilen bir anomali belirleme aparatı ve yöntemi sağlamaktır. [Çözüm] Bir anomali belirleme aparatı (10), yüksek fırının (1) farklı konumlarına yerleştirilmiş birden fazla sensör (S1 ila Sn) kullanarak yüksek fırında (1) bir anomali tespit etmektedir. Anomali belirleme aparatı (10), çok sayıda sensör (S1 ila Sn) tarafından algılanan çok sayıda ölçüm verisi (D1 ila Dn) parçasından bir değerlendirme değeri hesaplamak üzere konfigüre edilen bir değerlendirme değeri hesaplama ünitesi (11) ve anomali eşiği (EVref1) ve anomali ön işareti eşiği (EVref2) kullanılarak değerlendirme değeri hesaplama ünitesi (11) tarafından hesaplanan değerlendirme değeri (EV) temelinde yüksek fırında bir anomali tespit etmek üzere konfigüre edilen bir anomali belirleme ünitesi (12) içermektedir. Değerlendirme değeri (EV) anomali eşiğinden (EVref1) büyükse, anomali belirleme ünitesi (12) bir anomali olduğunu belirlemektedir ve değerlendirme değerinin (EV) anomali ön işareti eşiğinden (EVref2) büyük olduğu periyot belirli bir periyot (PT) veya daha uzun devam ederse, anomali belirleme ünitesi (12) bir anomali ön işaretinin olduğunu belirlemektedir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.