Silindir şeklindeki bir saplamanın (2) kaynaklamayla bir taşıyıcı plakayla (1) bağlı olduğu saplama kaynağı bağlantılarının (3) tahribatsız testine yönelik aygıt bir manyetik boyunduruk (6), en az bir manyetik alan bobini (5) ve en az bir manyetik alan sensöründen (4) oluşur. Manyetik boyunduruk (6), açık veya yarı açık bir içi boş silindirden oluşturulan bir iç boşluğa sahiptir, burada içi boş silindirin iç çapı ve yüksekliği, test edilecek saplamanın (2) tümüyle iç boşluk içine yerleştirilebileceği bir şekilde seçilmiştir. En az bir manyetik alan sensörü (4), iç boşluğa doğru bir açıklığa sahip, manyetik boyunduruğun (6) halka şeklindeki taban alanına veya iç veya dış yan yüzeye takılmıştır. Ayrıca, en az bir manyetik alan bobini (5), manyetik alan bobini (5) tarafından oluşturulan manyetik alanın (7) manyetik boyunduruğa (6), manyetik boyunduruğun (6) iç boşluğuna ve en az bir manyetik alan sensörüne (4) penetre edeceği bir şekilde düzenlenmiştir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.