Bu buluşla, geri saçılan ışımada bir radyografik görüntü elde etmek için bir tertibat ve incelenen bir nesnenin malzeme bileşimini belirlemek için bir yöntem önerilir. Tertibat, mekanik bir tarama tertibatına sahip bir X ışını kaynağı, bir algılama sistemi, bir işlemci birimi ve bir radyografik görüntü görüntüleme tertibatı içerir. Bu sistemdeki algılama sistemi, NaI(Tl) esaslı bir sintilasyon spektrometreleri dizisinden oluşur ve geniş bir toplam duyarlı yüzey alanına sahiptir. Sintilasyon kristallerinin ve fotodetektörlerin bir ışık kılavuzu aracılığıyla birleştirilmesiyle dizi elemanlarının sayısı en aza indirilmiştir. Malzeme bileşimi, ölçülen enerji dağılımlarının referanslarla karşılaştırılması sonucunda tanınır ve piksel renk kodlaması yoluyla radyografik görüntüde görüntülenir. Talep edilen buluşla elde edilen teknik sonuca, radyografik görüntünün bilgi içeriğini artırma ve işlevselliğini kayda değer ölçüde genişletme yoluyla ulaşılır, bu da incelenen nesnenin radyografik bir görüntüsünü elde etmenin yanında bunun malzeme bileşimini özgün bir görüntü biçiminde tanımlamayı ve görüntülemeyi sağlar. 2 bağımsız istem; 5 çizim. TR 2025 000494 T
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.