En az bir sekonder hücreyi (110) incelemeye yönelik bir inceleme aparatı (1) açıklanır, inceleme aparatı aşağıdaki unsurları içerir: sabit bir destek parçası (101); hareketli bir parça (102); destek parçası (101) ile hareketli parça (102) arasına yerleştirilmiş basınç parçaları (103), söz konusu basınç parçaları (103) ana eksen (X) boyunca serbestçe hareket edebilir, iki bitişik basınç parçası (103) sekonder bir hücreyi (110) almaya yönelik bir boşluğu (120) tanımlar; ve en az bir sekonder hücre (110) ile temas halinde olan her basınç parçası (103), bir sıcaklık sensörünü (109) içerir, sıcaklık sensörü (109), basınç parçaları (103) arasında bir basınca maruz kalan en az bir sekonder hücrenin (110) sıcaklığını ölçmek üzere tasarlanır. Buluş aynı zamanda en az bir sekonder hücrenin incelenmesine yönelik bir inceleme usulüne ilişkindir.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.