Açıklanan, gravür silindirlerinin ve gravür plakalarının yüzeylerinin optik olarak incelenmesine yönelik bir usuldür. Gravür silindiri veya gravür plakası bir denetim cihazına yerleştirildikten sonra, gravür silindirinin veya gravür plakasının yüzeyi bir veya daha fazla ölçüm görüntüsünde optik olarak taranır. Bunu, hücrelerin ve kusurların tespiti ile ölçüm görüntülerinin art arda taranması yoluyla hücrelerin tespiti izler. Tanınan hücrelerin ve kusurların özellikleri bir özellik vektörüne kaydedilir. Hücreleri ve kusurları tanımak ve değerlendirmek üzere çeşitli sinir ağları kullanılır. Özellik vektörleri ve dolayısıyla yüzey, önceden eğitilmiş bir destek vektör makinesi (SVM) kullanılarak sınıflandırılır.
Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.