Sistem Patent
Avrupa Patenti (TR Çevirisi)

Test Edilen Malzemenin Fiziksel Özelliklerini Tespit Etmek İçin Yanıt Sinyalini Karakterize Etme Yöntemi Ve Sistemi

Buluş Özeti

Mevcut buluşun çeşitli yönleri, test edilen malzemenin (MUT) fiziksel özelliklerini belirlemek için elektronik devreler, sistemler ve yöntemlerle ilgilidir. Belirli bir uygulamada, test edilen malzemenin (MUT) fiziksel özelliklerini tespit etmek için bir yanıt sinyalini karakterize etme yöntemi şunları içerir: bir sensör dizisi üzerindeki bir iletim elektrotunu kullanarak MUT'a bir uyarma sinyalinin iletilmesi ve bir referans sinyalinin bir birinci ve ikinci büyüklük ve faz (M/P) dedektörlerine iletilmesi; uyarma sinyaline dayalı olarak sensör dizisi üzerindeki bir alıcı elektrot aracılığıyla MUT'tan yanıt sinyalinin alınması; uyarma sinyalinin ve referans sinyalinin her birinin büyüklüğünün birinci M/P dedektörün karşılık gelen algılama aralığı ile karşılaştırılması ve, ayrı olarak, uyarma sinyali ve referans sinyalinin her birinin fazının birinci M/P dedektörünün karşılık gelen algılama aralığı ile karşılaştırılması; yanıt sinyalinin ve referans sinyalinin her birinin büyüklüğünün ikinci M/P dedektörünün karşılık gelen algılama aralığıyla karşılaştırılması ve, ayrı olarak, yanıt sinyalinin ve referans sinyalinin her birinin fazının ikinci M/P dedektörünün karşılık gelen algılama aralığıyla karşılaştırılması; yanıt sinyalinin, ikinci M/P dedektörünün karşılık gelen algılama aralıkları içindeki hem bir büyüklüğe hem de bir faza sahip olmasına kadar uyarma sinyalinin yinelemeli olarak ayarlanması; ve referans sinyalinin hem birinci hem de ikinci M/P dedektörlerinin karşılık gelen algılama aralıkları içindeki bir büyüklüğe ve bir faza sahip olmasına kadar referans sinyalinin yinelemeli olarak ayarlanması.

IPC Sınıfları
G01N27/02
Taraflar
Buluş Sahibi
Adam D Blot Andrew J Westcott Manfred Geier
Hak Sahibi
Transtech Systems, Inc. 900 Albany Shaker Road, Suıte 2, Latham, Ny 12110 A.B.D.
Vekil
Oktay Şimşek (Turklegal Patent Ve Marka Hizm. Ltd. Şti.)

Bu kayıt TPMK resmi patent bültenlerinden derlenmiştir ve bilgilendirme amaçlıdır. Güncel hukuki durum (itiraz, devir, hükümsüzlük) için kapsamlı bir sicil incelemesi gerekir. Uzmanlarımızdan kapsamlı patent araştırması isteyin.